更新時(shí)間：2024-05-07
產(chǎn)品型號(hào)：XRS-KDB-2B
廠家性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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本設(shè)備采用四探針?lè)▽?zhuān)用于金屬薄膜方塊電阻，HAD-KDB-2B 測(cè)試儀嚴(yán)格參照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)SEMI MF 374-0307 對(duì)設(shè)備的要求研制，運(yùn)用了先進(jìn)的半導(dǎo)體薄層測(cè)量技術(shù)，無(wú)需特別制樣，可測(cè)不規(guī)則的金屬薄膜。技術(shù)指標(biāo)：方塊電阻測(cè)量范圍（3 位有效數(shù)字）：0.00001-0.3Ω/□。測(cè)量電流分兩檔：100mA 和 1000mA。最小分辨率：0.00001Ω/□。試樣尺寸：直徑大于 32m
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